产品概述
名 称 ：BGA半导体测试探针
品 牌 ：ICM
包装方式：100支/瓶
所属分类：弹簧针、测试针、双头针
产品特点：采样稳定、过载稳定、测试误判率低。
产品实图
产品应用
使用领域
·ICM探针可用于智能穿戴设备，智能家居，医疗设备，无线设备，通讯设备，3C消费类产品，汽车等领域的产品
·我司备有BGA、ICT、PCB、线束、电流等种类探针。
定制说明
| 型号 | 参考价格 （未税价） |
交期 | 重量（KG） | {{i.spec_name}} |
|---|---|---|---|---|
| {{i.model_name}} | ￥ {{i.market_price}}起 | {{i.cycle}}天起 | {{i.weight || '--'}} | {{(isCloudSpec(j.val_list,i.spec_values) || isCloudSpec(j.val_list,i.spec_values) === 0) ? j.val_list[isCloudSpec(j.val_list,i.spec_values)]["spec_value"] : ''}} |
1、环境条件：
* 使用环境温度为10～40度、湿度为30%以下。
* 周围环境 无粉尘、腐蚀性气体、油分等使探针不受污染的环境。
2、行程条件
* 请只施加轴向负载，不能施加横向负载。
* 超出规定行程(全行程的2/3)会显著缩短探针的寿命。
3、电流施加
* 请在规定的行程内、与对象触头接触且处于静止的状态下通入电流。
* 如在按照规定行程动作的过程中、规定的行程以外或不与对象触头接触(开路)的状态下通入电流，可能会显著缩短探针的寿命。
* 探针因老化等原因，有时可能不能满足产品所载的容许电流。
4、电压施加
* 请在规定的行程内、与对象触头接触且处于静止的状态下施加电压。
* 请勿在不与对象触头接触的状态下施加电压，否则在接触之时会放电，导致探针损坏。
* 向探针施加高电压时，请严格遵守电流和电压的施加条件，并注意避免放电现象以及放电时所产生的瞬间巨大电流。
5、最大电流
* 产品目录所刊载的容许电流为上述条件(一般环境、行程、电流和电压的施加)下，1分钟内连续流过电流的最大值。
6、接触电阻
* 产品目录中刊载的电阻值是指，在上述条件(一般环境、行程、电流和电压的施加)下，给探针通入10mA的电流，使其与纯银端子接触而测得的代表值。
* 如果通入电流过大，可能会因触头部或探针内部老化而导致电阻值升高。
* 按规定行程反复动作多次后，可能会因触头部或探针内部老化而导致电阻值升高。
7、更换次数
* 产品目录中刊载的更换参考次数是指，在上述条件(一般环境、行程、电流和电压的施加)下，电流为10mA时，可正常使用探针的参考次数。
* 因使用环境及条件的不同而导致电阻值升高或弹簧压力下降等时，探针可能会在未满参考次数之前便需更换。请结合实际使用情况及时更换。
8、弹簧压力
* 如果探针温度超出80℃，将会导致弹簧压力下降。
* 如果加大电流值，可能会因探针发热而导致弹簧压力下降。
9、如何确定弹力
* 通常我们依照客户给予的行程空间，设计出合理的弹簧参数，客户在使用时，需要压合有效行程范围内使用，这样对于探针的使用寿命的保持具有关键的作用，如果我们在使用过长的行程时候，弹簧的寿命会锐减，有时甚至出现卡针，断簧的危险，当出现上面的情况，我们应该立即更换新针，防止探针轧板。
10、Pad点测试解决方案
" 通常情况下，如果pan点小于15mil以下，应该使用皇冠头去接触pad点，用尖头测试会抓不到点；在不确认治具的稳定性和精度之前，推荐用多爪的头型来进行测试。 如果pad点大于20mil，可以采用尖针穿透覆盖在pad点上的助焊剂。不同的测试情况需要不同的解决方案，我们必须在部件测试和探针之间保持一个平衡，提高一次通过率，让探针的寿命更长。"
