2021-09-10 14:14 半导体测试探针是一款目前主流的双向针，可用于测试电导率的测试针，一般用于智能穿戴设备，智能家居，医疗设备，无线设备，通讯设备等产品领域，采用优质的不锈钢丝原材料，能够有效地防止腐蚀，还支持客户DIY定制服务！
在工艺方面，常用的测试探针是由针头、针管、弹簧这三个组件构成的，测试探针中的弹簧是测试探针使用寿命的关键因素，
电镀处置过的弹簧使用寿命高，不会生锈，也能进步测试探针是持久性和导电性。因而，电镀工艺是消费半导体测试探针的次要技术，而国际的电镀工艺尚且有待打破。
1、环境条件：
* 运用环境温度为10～40度、湿度为30%以下。
* 周围环境 无粉尘、腐蚀性气体、油分等使探针不受净化的环境。
2、行程条件
* 请只施加轴向负载，不能施加横向负载。
* 超出规则行程(全行程的2/3)会明显延长探针的寿命。
3、电流施加
* 请在规则的行程内、与对象触头接触且处于运动的形态下通入电流。
* 如在依照规则行程举措的进程中、规则的行程以外或不与对象触头接触(开路)的形态下通入电流，能够会明显延长探针的寿命。
* 探针因老化等缘由，有时能够不能满足产品所载的允许电流。
4、电压施加
* 请在规则的行程内、与对象触头接触且处于运动的形态下施加电压。
* 请勿在不与对象触头接触的形态下施加电压，否则在接触之时会放电，招致探针损坏。
* 向探针施加高电压时，请严格遵守电流和电压的施加条件，并留意防止放电景象以及放电时所发生的霎时宏大电流。
5、最大电流
* 产品目录所刊载的允许电流为上述条件(普通环境、行程、电流和电压的施加)下，1分钟内连续流过电流的最大值。
6、接触电阻
* 产品目录中刊载的电阻值是指，在上述条件(普通环境、行程、电流和电压的施加)下，给探针通入10mA的电流，使其与纯银端子接触而测得的代表值。
* 假如通入电流过大，能够会因触头部或探针外部老化而招致电阻值降低。
* 按规定行程重复举措屡次后，能够会因触头部或探针外部老化而招致电阻值降低。
7、改换次数
* 产品目录中刊载的改换参考次数是指，在上述条件(普通环境、行程、电流和电压的施加)下，电流为10mA时，可正常运用探针的参考次数。
* 因运用环境及条件的不同而招致电阻值降低或弹簧压力下降等时，探针能够会在未满参考次数之前便需改换。请结合实际运用状况及时改换。
8、弹簧压力
* 假如探针温度超出80℃，将会招致弹簧压力下降。
* 假如加大电流值，能够会因探针发热而招致弹簧压力下降。
9、如何确定弹力
* 通常我们按照客户给予的行程空间，设计出合理的弹簧参数，客户在运用时，需求压合无效行程范围内运用，这样关于探针的使用寿命的坚持具有关键的作用，假如我们在运用过长的行程时分，弹簧的寿命会锐减，有时甚至呈现卡针，断簧的风险，当呈现下面的状况，我们应该立刻改换新针，避免探针轧板。
10、Pad点测试解决方案
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通常状况下，假如pan点小于15mil以下，应该运用皇冠头去接触pad点，用尖头测试会抓不到点；在不确认治具的稳定性和精度之前，引荐用多爪的头型来停止测试。
假如pad点大于20mil，可以采用尖针穿透掩盖在pad点上的助焊剂。不同的测试状况需求不同的解决方案，我们必需在部件测试和探针之间坚持一个均衡，进步一次通过率，让探针的寿命更长。"
